Análisis de componentes principales aplicado en espectroscopia de emisión K𝛽� de alta resolución

Abstract

La espectroscopia de emisión de rayos X (XES) es una herramienta muy importante para el análisis elemental de una muestra y para estudiar la estructura atómica de los átomos, actualmente se ha convertido además en una técnica poderosa para estudiar el entorno químico de los compuestos. En este trabajo se analizaron los espectros 𝐾𝛽 de alta resolución de unas perovskitas de 𝐿𝑢1−𝑥𝑆𝑟𝑥𝐹𝑒0,5𝐶𝑟0,5𝑂3 con x=0;0.1;0.2;…;1 dado el actual interés en estudiar las propiedades magnéticas de perovskitas dopadas con cationes de metales de transición. Para realizar este análisis se aplicaron tanto técnicas experimentales (DRX, XPS) como métodos de análisis multivariado (análisis de componentes principales, análisis de correspondencias múltiples y análisis de conglomerados).

X-ray emission spectroscopy (XES) is a very important tool for the elementary analysis of a sample and to study the atomic structure of atoms, nowadays it has also become a powerful technique to study the chemical environment of the compounds. In this work, the high-resolution 𝐾𝛽 spectra of perovskites of 𝐿𝑢1 −0.5𝐶𝑟0.5𝑂3 with x = 0; 0.1; 0.2; ...; 1 were analyzed given the current interest in studying the magnetic properties of perovskites doped with metal cations of Transition. To perform this analysis, both experimental techniques (DRX, XPS) and multivariate analysis methods (principal component analysis, multiple correspondence analysis and cluster analysis) were applied.