Propuesta de un método de test de mantenimiento para secciones analógicas configurables

Abstract

El presente trabajo explora la viabilidad de un test de mantenimiento de bajo costo para filtros implementados en las secciones analógicas configurables presentes en dispositivos PSoC1. Para el test se adapta el método basado en análisis de respuesta transitoria (TRAM), con el que se obtienen las principales especificaciones de los filtros en una implementación de tipo software-based test. Para la aplicación de TRAM se requiere de un análisis que establece los recursos internos necesarios para hacer llegar el estímulo al filtro y conducir su respuesta a un pin de salida,para todas las posibles ubicaciones de los filtros. El estímulo se genera internamente con los recursos disponibles en chip. La respuesta de test se analiza externamente con una computadora y un osciloscopio. Los resultados presentados están orientados a demostrarla factibilidad del método, debiendo considerarse como preliminares. Sin embargo, estos demuestran ser promisorios dadas las bajas dispersiones logradas en las mediciones experimentales.