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dc.contributorPérez, Carlos Albertoes
dc.contributor.advisorSánchez, Héctor Jorgees
dc.contributor.authorRobledo, José Ignacioes
dc.date.accessioned2019-03-19T14:49:41Z
dc.date.available2019-03-19T14:49:41Z
dc.date.issued2019-02
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11086/11285
dc.descriptionTesis (Doctor en Física)--Universidad Nacional de Córdoba. Facultad de Matemática, Astronomía, Física y Computación, 2018.es
dc.description.abstractLa presente tesis doctoral está centrada en el uso de la Dispersión Inelástica Resonante de Rayos X (RIXS) para la determinación del entorno químico de un átomo emisor a partir de espectros colectados mediante sistemas dispersivos en energía, los cuales pueden obtenerse en laboratorios de rayos X convencionales o en facilidades sincrotrón. En la primera parte de esta tesis se describe la técnica EDIXS (Energy Dispersive Inelastic X-Ray Scattering ) que desarrollamos en base al uso de métodos multivariados para extraer información de espectros RIXS, colectados por un sistema dispersivo en energía y con un haz incidente monocromático. En la segunda parte se describe el diseño, construcción y funcionamiento de un nuevo espectrómetro. Este sistema está basado en un cristal analizador de forma cónica discreta, que selecciona los fotones provenientes de la muestra emisora y los difracta hacia distintas posiciones de la superficie de un detector sensible a la posición.es
dc.description.abstractThis thesis is focused in the use of Resonant Inelastic X-Ray Scattering (RIXS) in energy dispersive mode for chemical environment characterization of the emitting atoms. These spectra may be easily obtained in synchrotron radiation facilities and also in conventional x-ray laboratories. The thesis is divided in two parts. The first one describes our technique, called Energy Dispersive Inelastic X-Ray Scattering (EDIXS), which is based in the use of multivariate statistical analyses for extracting information from RIXS spectra measured with energy dispersive systems, and a monochromatic beam. The second part is dedicated to the design, construction and fabrication of a new spectrometer, consisting on a crystal analyzer with a "Discrete Conical" shape, that selects photons emitted from the sample and diffracts them towards the surface of a position sensitive detector.en
dc.language.isospaes
dc.rightsAtribución-NoComercial-CompartirIgual 4.0 Internacional*
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/*
dc.subjectEspectros de rayos Xes
dc.subjectX-ray spectraen
dc.subjectMultivariete analysisen
dc.subjectX- and γ-ray spectroscopyen
dc.subjectElastic and inelastic scatteringen
dc.subjectNanoscale materials and structuresen
dc.subject.otherDispersión Raman resonante de rayos Xes
dc.subject.otherRadiación sincrotrónes
dc.subject.otherEstadística multivariadaes
dc.subject.otherEspectrómetroes
dc.subject.otherEDIXSen
dc.titleAvances en espectroscopía por dispersión inelástica resonante de rayos X en baja y alta resoluciónes
dc.typedoctoralThesises


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