Avances en espectroscopía por dispersión inelástica resonante de rayos X en baja y alta resolución

Abstract

La presente tesis doctoral está centrada en el uso de la Dispersión Inelástica Resonante de Rayos X (RIXS) para la determinación del entorno químico de un átomo emisor a partir de espectros colectados mediante sistemas dispersivos en energía, los cuales pueden obtenerse en laboratorios de rayos X convencionales o en facilidades sincrotrón. En la primera parte de esta tesis se describe la técnica EDIXS (Energy Dispersive Inelastic X-Ray Scattering ) que desarrollamos en base al uso de métodos multivariados para extraer información de espectros RIXS, colectados por un sistema dispersivo en energía y con un haz incidente monocromático. En la segunda parte se describe el diseño, construcción y funcionamiento de un nuevo espectrómetro. Este sistema está basado en un cristal analizador de forma cónica discreta, que selecciona los fotones provenientes de la muestra emisora y los difracta hacia distintas posiciones de la superficie de un detector sensible a la posición.

This thesis is focused in the use of Resonant Inelastic X-Ray Scattering (RIXS) in energy dispersive mode for chemical environment characterization of the emitting atoms. These spectra may be easily obtained in synchrotron radiation facilities and also in conventional x-ray laboratories. The thesis is divided in two parts. The first one describes our technique, called Energy Dispersive Inelastic X-Ray Scattering (EDIXS), which is based in the use of multivariate statistical analyses for extracting information from RIXS spectra measured with energy dispersive systems, and a monochromatic beam. The second part is dedicated to the design, construction and fabrication of a new spectrometer, consisting on a crystal analyzer with a "Discrete Conical" shape, that selects photons emitted from the sample and diffracts them towards the surface of a position sensitive detector.