Uso de análisis de componentes principales para el estudio de la estructura fina de espectros de dispersión Raman resonante de rayos X

Abstract

El análisis de componentes principales (ACP) es una técnica estadística multivariada de análisis de datos de suma utilidad y amplio uso interdisciplinario. En particular puede ser utilizada para el análisis de la información encriptada en la variabilidad presente en espectros de rayos X. En este trabajo se utilizará esta técnica para el análisis de espectros de Dispersión Raman Resonante de Rayos X provenientes de muestras oxidadas con la finalidad de discernir sus estados de oxidación en las capas nanométricas superficiales del material en estudio.

Principal component analysis (PCA) is a multivariate statistical data analysis technique of great utility and wide interdisciplinary use. In particular, it can be used for the analysis of the information encrypted in the variability present in X-ray spectra. In this work this technique will be used for the analysis of Resonant X-Ray Raman Scattering spectra from oxidized samples in order to discern their oxidation states in the nanometric surface layers of the material under study.